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あいちシンクロトロン光センターは、蓄積電流300mAのトップアップ運転による非常に安定した光源で、蓄積エネルギーが1.2GeVながら、超伝導偏向電磁石、常伝導偏向電磁石、永久磁石(アンジュレータ)を使用することにより、硬X線から真空紫外光まで幅広い波長の光を取り出すことができます。現在6本の共用ビームラインがあり、新材料、新製品の開発等、企業、大学のナノテク研究を支援します。

 

67c6af9034d136e90c3a4808726424f21次世代のモノづくりに不可欠なナノレベルの先端・計測分析施設である「あいちシンクロトロン光センター」の供用を開始しました。この施設は、付加価値の高いモノづくり技術を支援するため、愛知県が愛・地球博跡地に整備を進める「知の拠点あいち」の基幹となる施設で、科学技術交流財団が整備・運営する共同利用施設として、企業や大学に広く活用して頂くことを目的としています。

ライン紹介

BL5S1 硬X線XAFS・蛍光X線

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硬X線領域のX線吸収微細構造(XAFS)測定を行い、材料中の原子の結合状態や局所構造を解析します。
エネルギー範囲としては、

  • K-吸収端でスカンジウム~モリブデン
  • LIII-吸収端でインジウム~ウランを対象

BL6N1 軟X線XAFS・光電子分光

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軟X線領域のX線吸収微細構造(XAFS)測定を行い、材料中の原子の結合状態や局所構造を解析します。また、光電子分光も可能です
エネルギー範囲としては、

  • K-吸収端でシリコン~クロム
  • LIII-吸収端でルビジウム~アンチモンを対象

BL7U 真空紫外分光・超軟X線XAFS・光電子分光

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真空紫外から軟X線領域で吸収分光および光電子分光を行い、無機・有機材料、特に燃料電池や磁性材料の化学状態・電子状態の分析を行います。
エネルギー範囲としては、

  • K-吸収端でリチウム~ネオン
  • L-~M-端でウランまでをカバー

BL8S3 広角・小角散乱

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X線小角散乱法により、分子薄膜や繊維など、主に有機・高分子材料の構造を解析します。カメラ長は0.45~4mで、数Åから約300nmまでの範囲の構造の測定が可能です。IP検出器とPILATUSを備え、高精度静的測定と時分割測定が可能です。

BL5S2 X線回折

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半径286mmのデバイシェラーカメラに350mmx400mmのIPとPILATUSを備え、高分解能測定と高速データ収集が可能です。通常の試料軸(キャピラリー)の他に、高速回転のスピナーと薄膜用アタッチメントを備えています。試料自動チェンジャーを備え、連続自動測定も可能です。

BL8S1 X線反射率・薄膜表面回折

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リガク製SmartLabのシンクロトロン光仕様の回折計を備え、有機・無機多層膜のX線反射率測定、X線CTR散乱測定を迅速・簡便かつ精度よく行います。また、多軸ステージにより、エピタキシャル薄膜の逆格子マッピング測定や半導体薄膜の結晶性評価、構造変化の解析に利用できます。