[KEK]PF研究会「X線干渉計と縦型ウィグラー を 用いた超高感度画像計測の現状と将来展望」ー延期


イベント詳細

  • 日付:

首記PF研究会は延期となりました。(2020/3/16) 詳細は下記サイトでご確認下さい。

https://www2.kek.jp/imss/pf/workshop/kenkyukai/20200326/index.html

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KEK物構研PFの研究会開催案内をお知らせします。

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2020年3月26, 27日にPF研究会「X線干渉計と縦型ウィグラーを用いた超高感度画像計測の現状と将来展望」を開催いたします。 下記 HPの「参加申し込みフォーム」より、奮ってお申し込みください。

【趣旨】
超高感度な非破壊三次元画像計測法として,X線干渉計を用いてサンプル内部 の密度分布を検出する位相イメージング法が実現されている。密度分解能はサブ mg/cm3に達し,腫瘍の無造影可視化やヒト胚子の高精細な解析等のバイオメディカルへの適用に加え,リチウムイオンバッテリー(LIB)の電解液イオン濃度の オペランド観察などの産業利用,南極古氷中に含まれるエアハイドレートの三次元可視化など地球環境への適用など,一種のオンリーワン計測が行われている。

安定した上記撮像にはX線干渉計のナノ・ピコレベルの超精密な位置制御が不可欠であるが,耐振動特性を考慮した光学配置では通常の放射光(横発散)の場合,利用効率が極端に低下してしまう。このため,BL-14に設置されている世界で唯一の縦型ウィグラー(縦発散の放射光)を利用することで,初めて実用的な撮像を実現できている。今後,同縦型ウィグラーが更新・改良された場合,オン リーワンの本X線干渉法が更に発展・展開すると期待される。本研究会では,X線干渉法を用いた各分野での観察例の紹介に加え,ウィグラーの更新によりどのような新たなサイエンスの展開が期待できるのかという点に主眼を置き,分野を超えて参加者各位で積極的な検討議論を行う予定である。

【研究会HP】
https://www2.kek.jp/imss/pf/workshop/kenkyukai/20200326/index.html

日時:2020年3月26日(木)13時~27日(金)15時
会場:KEKつくばキャンパス  4号館1階セミナーホール
共催:PFユーザーアソシエーション(PF-UA)
協賛:九州シンクロトロン光研究センター
提案代表者: 米山明男(九州シンクロトロン光研究センター)
所内世話人:本田融(KEK加速器),岸本俊二,平野馨一,兵藤一行(KEK物構研 放射光)
参加費:無料
ホームページ:https://www2.kek.jp/imss/pf/workshop/kenkyukai/20200326/index.html
問い合わせ先:研究会事務局(pf-kenkyukai@pfiqst.kek.jp