[Spring-8]初中級者を対象としたXAFS測定研修会


イベント詳細


【本イベントはJASRI主催です】

主にSPring-8の利用経験が無い産業界の方を対象として、産業利用ⅡビームラインBL14B2においてXAFS測定研修会を行います。測定は透過法、蛍光法(19素子ゲルマニウム半導体検出器を使用)および転換電子収量法を実施します。
本研修会は、BL14B2における実習を通して光学系・実験装置の特徴について学び、適切な実験計画に基づいて測定する技術の習得を目的とします。これまでに透過法しか経験が無く、蛍光法や転換電子収量法を習得したい方の参加も歓迎します。
実習では、ご計画中のXAFS分析のテスト測定として参加者の持参された試料の測定(透過法、蛍光法、転換電子収量法)を行います。

主催:(公財)高輝度光科学研究センター(JASRI)
協賛:光ビームプラットフォーム
日時:2019年4月18日(木)、5月9日(木)
会場:大型放射光施設 SPring-8主催
講義:中央管理棟1階上坪記念講堂(予定)
実習(測定):蓄積リング棟実験ホールBL14B2
アクセス:http://www.spring8.or.jp/ja/about_us/access/access_chart
キャンパスマップ:http://www.spring8.or.jp/ja/about_us/access/campus_map

プログラムの詳細はSPring-8のホームページにてご確認下さい。