SPring-8研修会「初中級者を対象としたXAFS測定研修会」


イベント詳細

このイベントは19 6月 2020に終了しました


高輝度光科学研究センター(JASRI)主催の研修会についてお知らせします。

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主にSPring-8の利用経験が無い産業界の方を対象として、産業利用ⅡビームラインBL14B2においてXAFS測定研修会を行います。測定は透過法、蛍光法(19素子ゲルマニウム半導体検出器を使用)および転換電子収量法を実施します。
 本研修会は、BL14B2における実習を通して光学系・実験装置の特徴について学び、適切な実験計画に基づいて測定する技術の習得を目的とします。これまでに透過法しか経験が無く、蛍光法や転換電子収量法を習得したい方の参加も歓迎します。
 実習では、ご計画中のXAFS分析のテスト測定として参加者の持参された試料の測定(透過法、蛍光法、転換電子収量法)を行います。

【日時】2020年6月16日(木)、6月19日(金)
※新型コロナウイルス感染症の拡大状況により、開催を延期もしくは中止する可能性がございます。あらかじめご了承ください。
【会場】大型放射光施設 SPring-8
講義、実習場所:中央管理棟 1階会議室、蓄積リング棟 BL28B2

プログラム詳細・お申し込はこちらをご参照下さい