SPring-8研修会「二次元検出器を用いた薄膜X線回折測定研修会」


イベント詳細


高輝度光科学研究センター(JASRI)が主催する研修会についてお知らせします。

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SPring-8産業利用IIIビームラインBL46XUにおいて、産業分野での利用を検討中で利用経験の無い方を対象とした薄膜X線回折測定の研修会を行います。今回の研修会ではHUBER社多軸X線回折計において利用が増えてきている二次元検出器PILATUS300Kを用いた薄膜X線回折測定を対象とします。
BL46XUに設置されているHUBER社多軸X線回折計について、同装置を用いる実験課題が採択されている方、課題申請中の方、および課題申請を検討されている初心者の方が対象となります。
本研修会は、講義と実習を通して二次元検出器を用いた薄膜X線回折測定の特徴についての理解を深め、装置の操作方法を習得することにより、適切な実験計画に基づいた有効な実験成果を出していただくことを目的とします。

日時:2019年11月27日(水)10:00 ~11月27日(水)21:00(測定実習完了次第終了)
会場:大型放射光施設 SPring-8
講義、実習(測定)場所:蓄積リング棟BL46XU
アクセス:http://www.spring8.or.jp/ja/about_us/access/access_chart
キャンパスマップ:http://www.spring8.or.jp/ja/about_us/access/campus_map

対象者:SPring-8 BL46XUでの薄膜試料X線回折測定の課題申請を検討中、または申請中の方
申込締切:2019年10月18日正午
問合せ・お申込みについては下記サイトをご覧ください。
http://www.spring8.or.jp/ja/science/meetings/2019/191127/