【SPring-8】「初中級者を対象としたXAFS測定研修会」
主にSPring-8の利用経験が無い産業界の方を対象として、XAFS ⅡビームラインBL14B2においてXAFS測定研修会を行います。測定は透過法、蛍光法(19素子ゲルマニウム半導体検出器を使用)および転換電子収量法を実施します。本研修会は、BL14B2における実習を通して光学系・実験装置の特徴について学び、適切な実験計画に基づいて測定する技術の習得を目的とします。これまでに透過法しか経験が無く、蛍光法や転換電子収量法を習得したい方の参加も歓迎します。実習では、計画中のXAFS分析のテスト測定として参加者が持参された試料の測定(透過法、蛍光法、転換電子収量法)を行います。
開催日時:2024年12月10日 (火) 10時00分
開催場所:大型放射光施設 SPring-8(兵庫県佐用郡佐用町光都1-1-1)、講義:中央管理棟1階ミーティングルーム、測定:蓄積リング棟実験ホールBL14B2
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■ プログラム(講演時間60分は質疑応答15分を含む)
9:00-10:00 各自ユーザー手続き
10:00-12:00 講義
12:00-13:00 昼食
13:00-14:00 講義
14:00- 実習 参加者持ち込み試料による測定実習(各グループ最大5サンプル,1~2時間程度)
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対象者:主にSPring-8の利用経験が無く、XAFS測定が初中級者の産業界の方。2025A第2期以降に申請を計画している方。
定員:4名程度(1グループ2名以内、最大2グループ)
申込締切:2024年11月5日(火)12:00
詳細ページ:http://www.spring8.or.jp/ja/science/meetings/2024/2024_XAFS/