【SPring-8】「初中級者を対象としたXAFS測定研修会」

主にSPring-8の利用経験が無い産業界の方を対象として、XAFS ⅡビームラインBL14B2においてXAFS測定研修会を行います。測定は透過法、蛍光法（19素子ゲルマニウム半導体検出器を使用）および転換電子収量法を実施します。本研修会は、BL14B2における実習を通して光学系・実験装置の特徴について学び、適切な実験計画に基づいて測定する技術の習得を目的とします。これまでに透過法しか経験が無く、蛍光法や転換電子収量法を習得したい方の参加も歓迎します。実習では、計画中のXAFS分析のテスト測定として参加者が持参された試料の測定（透過法、蛍光法、転換電子収量法）を行います。

開催日時：2024年12月10日 (火) 10時00分

開催場所：大型放射光施設 SPring-8（兵庫県佐用郡佐用町光都1-1-1）、講義：中央管理棟1階ミーティングルーム、測定：蓄積リング棟実験ホールBL14B2

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■ プログラム（講演時間60分は質疑応答15分を含む）
9:00-10:00 各自ユーザー手続き
10:00-12:00 講義
12:00-13:00 昼食
13:00-14:00 講義
14:00- 実習 参加者持ち込み試料による測定実習（各グループ最大5サンプル，1～2時間程度）

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対象者：主にSPring-8の利用経験が無く、XAFS測定が初中級者の産業界の方。2025A第2期以降に申請を計画している方。

定員：4名程度（1グループ2名以内、最大2グループ）

申込締切：2024年11月5日（火）12:00

詳細ページ：http://www.spring8.or.jp/ja/science/meetings/2024/2024_XAFS/